1 ressource : BORENSZTAJN STEPHAN

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Canal-U
Description : La microscopie électronique à balayage (MEB ou SEM pour Scanning Electron Microscopy en anglais) est une technique de microscopie basée sur le principe des des intéractions électrons-matière. Un faisceau d'éléctrons balaie la surface de l'échantillon à analyser qui, en réponse, réémet certainesp ...
Mots clés : canon à électrons, éléctron rétrodiffusé, électron secondaire, intéraction électron-matière, microscope électronique à balayage, résolution d'image, sonde électronique
Date : 01-07-2007
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