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Étude des interfaces et des couches minces par réflectivité des rayons X et Neutron. (Optique Pour l'Ingénieur : Optique des rayons X)
Description
:
Ce cours est consacré à la présentation des théories utilisées pour calculer la réflectivité spéculaire d'une interface, d'un film mince ou d'une multi-couche plus complexe. Nous soulignons avec un soin particulier les hypothèses qui permettent d'appliquer un formalisme développé historiquement ...
Mots clés
:
rayon X, neutron, OPI, Optique Pour l'Ingénieur, réflectivité, interface, couche mince, Fresnel, Maxwell
Date
:
08-03-2010
Droits
:
Ces ressources sont la copropriété de l'Université du Mans et d'UNIT. Leur utilisation est autorisée dans les limites de la licence GPL Free Documentation http://www.gnu.org/copyleft/fdl.html
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Étude des interfaces et des couches minces par réflectivité des rayons X et Neutron. (Optique Pour l'Ingénieur : Optique des rayons X)
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