1 ressource : CRETIN BERNARD

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Canal-U
Description : Microscopie à champ proche GénériqueBernard Cretin LPMO-CNRS
Mots clés : effet d'échelle, étalon, grandeur physique, mesure, métrologie, microscopie à sonde locale, microscopie en champ proche, microscopie optique, nanométrologie
Date : 01-01-2003
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