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Métrologie à petites échelles
Description
:
Microscopie à champ proche GénériqueBernard Cretin LPMO-CNRS
Mots clés
:
effet d'échelle, étalon, grandeur physique, mesure, métrologie, microscopie à sonde locale, microscopie en champ proche, microscopie optique, nanométrologie
Date
:
01-01-2003
Droits
:
Droits réservés à l'éditeur et aux auteurs.
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Métrologie à petites échelles
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