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BORENSZTAJN STEPHAN
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Dans l'oeil du microscope
Description
:
La microscopie électronique à balayage (MEB ou SEM pour Scanning Electron Microscopy en anglais) est une technique de microscopie basée sur le principe des des intéractions électrons-matière. Un faisceau d'éléctrons balaie la surface de l'échantillon à analyser qui, en réponse, réémet certainesp ...
Mots clés
:
canon à électrons, éléctron rétrodiffusé, électron secondaire, intéraction électron-matière, microscope électronique à balayage, résolution d'image, sonde électronique
Date
:
01-07-2007
Droits
:
Droits réservés à l'éditeur et aux auteurs. Copyright : Université Paris Diderot / Université Pierre et Marie Curie / Juillet 2007
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