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UOH
Entretien avec Natalie Zemon Davis (Lyon, une capitale du livre à la renaissance - 6/6)
Description : Au cours d’un entretien, l’historienne américaine Natalie Zemon Davis, qui a enseigné à Toronto, Berkeley et Princeton, retrace son parcours intellectuel, à partir de ses premiers travaux qui portaient sur les compagnons imprimeurs lyonnais du XVIe siècle. Elle montre comment ce travail initial, ...
Mots clés : livre, Lyon, Renaissance, imprimeurs, Natalie Zemon Davis, compagnon imprimeur
Date : 2015
Droits : Licence Creative Commons : Paternité - Pas d'Utilisation Commerciale - Partage à l'identique 4.0 France
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Mesures de vitesse et déplacements par interférométrie hétérodyne. (Optique Pour l'Ingénieur : Interférences et Diffraction)
Description : Le cours traite des instruments de mesures de déplacements ou de vitesses par interférométrie hétérodyne. Il fait suite au cours présentant les mesures de déplacements ou de vitesses par interférométrie homodyne. Les instruments concernés sont : les vibromètres laser industriels, les lasers de p ...
Mots clés : OPI, Optique Pour l'Ingénieur, Effet Doppler, Interféromètrie homodyne, interféromètrie hétérodyne, vibrométrie, vélocimétrie laser, laser de poursuite, Ultrason laser, Comptage de franges, Bruit de photons, Cellule de Bragg
Date : 05-03-2010
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Mesures de vitesse et déplacements par interférométrie homodyne. (Optique Pour l'Ingénieur : Interférences et Diffraction)
Description : Le cours traite des instruments de mesures de déplacement ou de vitesse par méthode interférométrique. Les instruments concernés sont : les vibromètres laser, les lasers de poursuite, l'instrumentation d'Anémométrie Laser Doppler (ALD). Les dispositifs de mesure reposant sur le « self-mixing » ou ...
Mots clés : laser tracker, cellule de Bragg, bruit de photon, laser de poursuite, vélocimétrie laser, effet Doppler, vibrométrie, caractérisation DC de circuit intégré, ultrason laser, interféromètrie homodyne, comptage de franges, OPI, Optique Pour l'Ingénieur
Date : 01-04-2007
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Geometric calibration of a camera or a stereoscopic vision sensor. (Optique Pour l'Ingénieur : Imagerie)
Description : The geometric calibration of a camera consists in determining the existing mathematical relation between the coordinates of the 3D points of the scene observed and the 2D coordinates of their projection in the image (image-points). This step of calibration represents the initial point for several ...
Mots clés : modèles géométriques de caméra, calibrage de caméra, distorsions géométriques, vision stéréoscopique, OPI, Optique Pour l'Ingénieur
Date : 15-11-2010
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Calibrage géométrique d'une caméra ou d'un capteur de vision stéréoscopique. (Optique Pour l'Ingénieur : Imagerie)
Description : Le calibrage géométrique d'une caméra consiste à déterminer la relation mathématique existant entre les coordonnées des points 3D de la scène observée et les coordonnées 2D de leur projection dans l'image (points-image). Cette étape de calibrage constitue le point initial pour plusieurs applications ...
Mots clés : modèles géométriques de caméra, calibrage de caméra, distorsions géométriques, vision stéréoscopique, OPI, Optique Pour l'Ingénieur
Date : 15-11-2010
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Techniques microscopiques. (Optique Pour l'Ingénieur : Optique instrumentale, microscopie)
Description : Ce cours présente les grands principes des techniques les plus classiques d'amélioration du contraste et de la visualisation des objets utilisés en microscopie de nos jours. Les techniques de contraste sont couramment utilisées pour de nombreux types d'observation. Elles sont même indispensables ...
Mots clés : microscope polarisant, éclairage orthoscopique, éclairage conoscopique, optique de Fourier, contraste de phase, strioscopie, fond noir, objectif de Mirau, contraste interférentiel différentiel, prisme de Wollaston, OPI, Optique Pour l'Ingénieur
Date : 01-05-2007
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Applications spécifiques des capteurs pour la photonique et l'imagerie. (Optique Pour l'Ingénieur : Capteurs à semi-conducteurs et applications)
Description : Lorsqu'un objet est placé dans le faisceau d'une diode Laser, une partie du faisceau réfléchi par ce dernier est rétro-injecté dans la cavité active de la diode et en perturbe les propriétés physiques. Cette perturbation qui se traduit principalement par une modification de la fréquence et de la ...
Mots clés : rétro-injection optique, self-mixing, diode laser, mesure de déplacement, mesure de vitesse, mesure de distance, OPI, Optique Pour l'Ingénieur
Date : 15-10-2007
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Physique des semiconducteurs : Fondamentaux. (Optique Pour l'Ingénieur : Capteurs à semi-conducteurs et applications)
Description : Dans la première partie de ce cours, des modèles simples de semi-conducteurs intrinsèques et extrinsèques de type N et P sont exposés. Ces modèles basés sur l'évolution des populations électroniques permettra d'appréhender le comportement des composants électroniques à semi-conducteurs. Dans une ...
Mots clés : OPI, semi-conducteur, jonction PN, Optique Pour l'Ingénieur
Date : 01-04-2008
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Fundamentals of Semiconductor physics. (Optique Pour l'Ingénieur : Capteurs à semi-conducteurs et applications)
Description : In the first part of this course, simple models for intrinsic and doped semiconductors are presented. These models describe the evolution of electronic populations, and serve as a basis for understanding semiconductor-based electronic devices. In a second part, the PN junction, made of two pieces ...
Mots clés : OPI, Optique Pour l'Ingénieur, semi-conducteur, jonction PN
Date : 04-03-2010
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Specific applications of sensors for photonic and imaging. (Optique Pour l'Ingénieur : Capteurs à semi-conducteurs et applications)
Description : Once an object is placed in the beam of a laser diode, a part of the beam reflected by the latter is retro-injected in the active cavity of the diode and disrupts the physical properties of it. This disruption which is shown principally by a modification of the frequency of the emission power of ...
Mots clés : rétro-injection optique, self-mixing, diode laser, mesure de déplacement, mesure de vitesse, mesure de distance, OPI, Optique Pour l'Ingénieur
Date : 04-03-2010
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