Ressource pédagogique : Patrick Touron - L’identité : point de vue d’un criminaliste
Mots-clés :
- ADN
- Ethique
- anthropomorphisme
- empreinte digitale
- odontologie légale
- Alphonse Bertillon
- Dessins papillaires
- affaire judiciaire
- signature chimique corporelle
- criminaliste
- anthroplogie
- pérennisation
- experts
- photographie
- Génétique
- unicité
- identité
- identification
- justice
- spécificités
- algorythme
- procedure
- recherche de la vérité
cours / présentation - Date de création : 13-11-2014
Présentation de: Patrick Touron - L’identité : point de vue d’un criminaliste
Informations pratiques sur cette ressource
Langue du document : Français
Type pédagogique : cours / présentation
Niveau : enseignement supérieur
Durée d'exécution : 13 minutes 33 secondes
Contenu : image en mouvement
Document : video/mp4
Taille : 321.67 Mo
Droits d'auteur : libre de droits, gratuit
Droits réservés à l'éditeur et aux auteurs. copyright : université Paris Diderot
Droits réservés à l'éditeur et aux auteurs. copyright : université Paris Diderot
Description de la ressource pédagogique
Description (résumé)
Pour un criminaliste, l'identification repose sur une expertise d'une qualité à la fois hautement technique, résolument éthique et indépendante. C'est à ces conditions que l'expertise garantit le respect de l'individu et du droit, et qu'elle permet de redonner une identité à des victimes, d'identifier des coupables et d'innocenter des personnes incriminées à tort.Le colonel de gendarmerie Patrick TOURON est directeur adjoint de l'Institut de Recherche Criminelle de la Gendarmerie Nationale (IRCGN).
"Domaine(s)" et indice(s) Dewey
- Sociologie et anthropologie (301)
Thème(s)
Intervenants, édition et diffusion
Intervenants
Fournisseur(s) de contenus : Samia SERRI
Diffusion
Document(s) annexe(s) - Patrick Touron - L’identité : point de vue d’un criminaliste
- Cette ressource fait partie de
EN SAVOIR PLUS
-
Identifiant de la fiche
16982 -
Identifiant
oai:canal-u.fr:16982 -
Schéma de la métadonnée
- LOMv1.0
- LOMFRv1.0
- Voir la fiche XML
-
Entrepôt d'origine